Метрологические 3D-сканеры Artec на японской выставке JIMTOF2016

Японская международная инструментальная выставка-ярмарка JIMTOF в 28-й раз открывает свои двери и предлагает посетителям широчайший обзор новинок в области инструментальных технологий. Предыдущее мероприятие, прошедшее в 2014 году, насчитывало рекордное количество экспонентов - 865!

Компания DataDesign – наш партнер в золотом статусе, станет участником выставки, где покажет работу портативных 3D-сканеров Eva и Space Spider. Благодаря высокой производительности и надежности 3D-технологии Artec применяются в широком диапазоне отраслей, включая аэрокосмическую и автомобильную промышленность, а также в компьютерной графике, медицине, в сфере сохранения культурного наследия и во многих других областях.

Где: Выставочный центр Tokyo Big Sight, Токио, Япония

Когда: 17-22 ноября

Связаться с нами