EVAの技術仕様を改良

2012年 11月 19日

技術に詳しいお客様にちょっとしたニュースがあります。現在、Artecは人気3Dスキャナ機種EVAの主要技術仕様を正式に改良しています。改良中の2つの仕様は、「毎秒のキャプチャポイント」と「距離に対する制度」です。

毎秒のキャプチャポイント

従来は、EVAは1秒間に最大288,000ポイントまでキャプチャすると発表しておりました。これは、後処理中の時間効率とパフォーマンスの完璧なバランスのためにArtec Studioでデフォルト設定されたキャプチャ数です。Artec Studioのこのデフォルト設定を変えることでキャプチャ設定を大幅に増やすことができます。毎秒、2,000,000ポイントまでキャプチャするには、[環境設定]>[アルゴリズム]の順に選択し、[デフォルトのリアルタイム環境設定を使う]のチェックマークを外し、[トライアングルステップ]の値を6から1に変更します。これにより後処理時間が大幅に増え、毎秒キャプチャされるフレーム数を減らすため、このような環境設定の変更を推奨しておりませんが、キャプチャポイント数を増やす方法があることをお伝えしています。

距離に対する精度 最近、

Artec Stuioの最新バージョンには新しく温度調整アルゴリズムを搭載したことをお知らせしました。これを簡単に説明すると、スキャナ動作時間が長いほど、精度が低くなります。これは市場に出ているどの3Dスキャナにも当てはまることで、これが起こるのはスキャナが熱くなってくると、多少なりとも内部パーツに影響するためで、これにより、スキャン結果の精度にも影響を及ぼすことになるのです。Artecを始めとする3Dスキャナメーカーが発表している精度仕様は、ハードウェアが[熱くない状態]状態でテストしています。この精度レベルは、スキャナが熱を帯びてくるとほぼ実現することは不可能です。このため、当社は温度調整アルゴリズムを開発しました。これはパーツの拡張を考慮し、ソフトウェアによるエラーを修正します。国際的に認められている測定方法VDI/VDE 2634 (Part 3) を用いて何度もテストを繰り返した結果、「距離に対する精度」仕様を0.03から100cmに正式に変更する準備ができました。これは従来の仕様に比べて5倍改善したことになります。この温度アルゴリズムによりEvaの精度が大幅に改善したのみならず、この高い精度を何時間も保つことができるようになりました。