Artec 3D推出Artec Studio 13,主打X光模式,便于查看原始扫描数据

09/09/2018

X光模式、3D雷达模式、全新强大算法、全局配准相辅相成,让细节丰富的大型3D数据集更快更方便

2018年9月10日加利福尼亚圣克拉拉——Artec 3D是全球知名的专业3D软硬件开发商和制造商,今天,我们推出改进后的高科技Artec Studio 13软件。无论物体多大,分辨率要求多高,强大的全新算法都能让用户得以轻松制作3D数据,并完成后期编辑处理。即便是由5亿个多边形组成的数据集,也不在话下。即便在扫描条件不理想时,作为制作模型时的必要工具,全局配准依然能够成功组合对象,且效率相比旧版,提升250%。此外,全局配准提速一倍,精细配准提速50倍,因此,用户可以更快进入数据处理的下一环节。

最新版软件配备了全新X光模式,这是同类软件中首次推出此类功能,能让用户在进入处理阶段前,查看原始扫描数据,寻找潜在问题。全新X光模式下,原始数据呈半透明状,且系统会自动删除扫描对象周围的噪点,仅保留用户所需数据。因此,捕获后,用户可以立刻判断扫描数据的质量是否达标,不用浪费时间处理错误数据。用户还能即刻看出遗漏或漏洞,错位或其他扫描阶段出现的问题。这项功能让复杂物体的扫描都变得轻松简单。

“现在,Artec Studio可以完美处理数据集,用户可以捕获并处理大型物体,且分辨率清晰,不受任何约束,这点非常出色,” Artec 3D的总裁兼CEO Artyom Yukhin说道。“无论用户扫描水平如何,从X光模式、全新算法到高级全局配准工具,所有新功能都能让大型多细节扫描变得更为简单,耗时更短。配合使用,可以充分挖掘我们3D扫描系列产品的无限潜能。”

全新X光模式下,原始数据呈半透明状,且系统会自动删除扫描对象周围的噪点,仅保留用户所需数据。

Artec Studio 11引入了自动模式,这是用于处理3D数据的全自动模式。而在Artec Studio 13中,我们推出了3D雷达模式,让整个扫描过程极具人性化。3D雷达将距离图投射到捕获的数据上,让您的扫描仪始终处于最佳位置,从而精确捕获物体几何和鲜亮色彩。扫描阶段,数据将以红、绿、蓝三色呈现,分别表示扫描仪距离过近、正好和过远。这一功能还可兼容旧版Artec扫描仪,无论是新用户还是专家用户,都能体验到轻松的3D扫描。为精益求精,达到最高品质,最大容错模式现已优化提升,能自动查看并突出需关注的物体区域,为您带来效率更高的工作流。

3D雷达将距离图投射到捕获的数据上,让您的扫描仪始终处于最佳位置,从而精确捕获物体几何和鲜亮色彩。

Artec Studio 13包含智能3D渲染功能,可自动识别用户的电脑配置。用户电脑电力不足时,智能3D渲染将适当调整,占用更少RAM,但同时,还能确保在处理大型数据时,带来最流畅的用户体验。此外,用户可以轻松制作3D模型任何部分的DXF文件,还能将未闭合轮廓导出至CAD软件,例如Design X或SOLIDWORKS。Artec Studio 13支持Artec全系列远距和手持式3D扫描仪,包括最新款Artec Ray和Artec Leo。

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